Herr M.Sc.

Daniel Widmann

Wissenschaftlicher Mitarbeiter
Institut für Elektrische und Optische Nachrichtentechnik
IC-Gruppe

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Fachgebiet

Im Mittelpunkt meiner Tätigkeit stehen die Entwicklung und die Vermessung von schnellen integrierten Mischsignalschaltungen in CMOS-Technologie. Zentrales Projekt ist die Realisierung eines sehr schnellen und breitbandigen Digital-Analog-Umsetzers in einer 28-nm-CMOS-FDSOI-Technologie für Umsetzungsraten bis 128 GS/s. Dieser ist für den Einsatz in Übertragungssystemen (optische Datenübertragung) sowie für den experimentellen Einsatz als Arbiträrsignalgenerator konzipiert.

  1. 2018

    1. D. Widmann, M. Grözing, and M. Berroth, “High-Speed Serializer for a 64 GS s-1 Digital-to-Analog Converter in a 28 nm Fully-Depleted Silicon-on-Insulator CMOS Technology,” Advances in Radio Science, vol. 16, pp. 99--108, 2018. DOI: 10.5194/ars-16-99-2018
  2. 2017

    1. N. Hoppe, C. Rothe, A. Celik, M. Félix Rosa, W. Vogel, D. Widmann, L. Rathgeber, M. del C. Ruiz Delgado, B. Villacampa, S. Ludwigs, and M. Berroth, “Single waveguide silicon-organic hybrid modulator,” Advances in Radio Science, vol. 15, pp. 141--147, 2017. DOI: 10.5194/ars-15-141-2017
    2. N. Hoppe, M. Haug, T. Polder, M. Félix Rosa, W. Vogel, P. Scheck, L. Rathgeber, D. Widmann, and M. Berroth, “Sealed and Compact Fiber Links to Integrated Photonics Using Grating Couplers,” in IEEE International Conference on Group IV Photonics, 2017, pp. 139--140. DOI: 10.1109/GROUP4.2017.8082235
    3. D. Widmann, M. Grözing, and M. Berroth, “A differential 19 channel 64 Gbit/s 16:1 multiplexer including a clock network in a 28 nm CMOS Fully-Depleted Silicon-on-Insulator technology,” in Kleinheubacher Tagung, U.R.S.I. Landesausschuss in der Bundesrepublik Deutschland e.V, 2017, pp. KH2017-Di-D1-02.
    4. T. Tannert, X.-Q. Du, D. Widmann, M. Grözing, M. Berroth, C. Schmidt, C. Caspar, J. H. Choi, V. Jungnickel, and R. Freund, “A SiGe-HBT 2:1 analog multiplexer with more than 67 GHz bandwidth,” in IEEE Bipolar / BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), 2017, pp. 146--149. DOI: 10.1109/BCTM.2017.8112931
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