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SUMMARY:INT-Kolloquium
DESCRIPTION:\nRoland DietzeEntwurf eines Sukzessive Approximationsregisters (SAR) in einer 22nm CMOS Technologie (FA)\nViktoria LeitzCharakterisierung optischer Verluste von Siliziumnitrid-Wellenleitern im sichtbaren Spektralbereich (MA Zwischenvortrag)\n
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